形質座ID | t4081.T000093 | |
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形質座名 | ||
形質名 | Bacterial wilt resistant, Resisitance to Ralstonia solanacearum Pss4, PW (proportion of wilted plants) | |
形質カテゴリ | [1]ストレス耐性 | |
解析方法 | QTL analysis | |
解析集団名 | Hawaii7996 x WVa700 | |
解析集団のタイプ | F2 | |
物理地図上の位置 | 配列名 | NA |
近傍マーカー 1 | GP504 | |
染色体番号 | NA | |
開始位置 | 0 | |
終了位置 | 0 | |
近傍マーカー 2 | ||
染色体番号 | NA | |
開始位置 | 0 | |
終了位置 | 0 | |
連鎖地図上の位置 | 連鎖群 | Hawaii7996 x WVa700 Chr2 |
LODピーク位置(cM) | ||
最大LOD値 | 2.3 | |
p値 | ||
文献 | 10.1094/MPMI.2000.13.1.6 | |
コメント | Hawaii7996:bacterial wilt resistant; WVa700:bacterial wilt susceptible |